S&P500 - powrót do krytycznego wsparcia na 2168 pkt.

Przeczytaj także: S&P500 - trzy dni konsolidacji

PROGNOZA (FW20):

W mojej ocenie weszliśmy w korektę wzrostów z czerwcowego dna. Może ona potrwać jeszcze wiele sesji i zejść do wsparcia w rejonie 1750 pkt. Korekta może mieć strukturę zygzaka (a-b-c). W dalszej kilkutygodniowej perspektywie oczekuję na trwałe przełamanie oporu w rejonie 1860-1870 pkt. (wykres 1).

Dziś w kalendarzu:

USA - Sympozjum w Jackson Hole, 09:15 (Szwajcaria) - Produkcja przemysłowa, 10:00 (Niemcy) - Indeks instytutu Ifo, 12:00 (Wlk. Brytania) - Sprzedaż detaliczna, 14:00 (Polska) - Protokół z posiedzenia RPP, 14:30 (USA) - Zamówienia na dobra trwałego użytku, wnioski o zasiłek dla bezrobotnych, 15:45 (USA) - Indeks PMI dla usług.

Kalendarz ma charakter informacyjny, zawiera ważniejsze wybrane dane.

USA (S&P500 Future)

- Po nieudanym ataku na tegoroczny szczyt (2191 pkt.) wczorajsza sesja przyniosła przełamanie wsparcia w okolicy 2183 pkt. Dzienne minimum wypadło na poziomie 2169 pkt. Pod koniec sesji nastąpiło odbicie, zamknięcie po 2175 pkt. Obecnie kontrakty są notowane na poziomie 2175 pkt.

PROGNOZA:

Kontrakty powróciły do krytycznego wsparcia w rejonie 2168 pkt. Sytuacja nadal pozostaje patowa. Przebicie wsparcia w rejonie 2168 pkt. generuje sygnał do korekty wzrostów z czerwcowego dna. W przeciwnym wypadku możliwy powrót na tegoroczny szczyt (wykres 2).

NIEMCY (kontrakty DAX)

Wczoraj doszło do wzrostu do 10651 pkt. Po godzinie 14-tej nastąpiła realizacja zysków, zamknięcie na poziomie 10594 pkt. Obecnie kontrakty są notowane po 10590 pkt. (wykres 3).

PROGNOZA:

Znajdujemy się w korekcie wzrostów z dna z 3-go sierpnia. Sytuacja pozostaje bez zmian. W krótkim terminie możliwy test wsparcia w rejonie 10500-10520 pkt. Obrona wsparcia doprowadzi do odbicia. W dalszej perspektywie jest ryzyko przełamania wsparcia w rejonie 10500 pkt. Wtedy otwiera się droga do spadków w rejon 10100 pkt.

Wszystkie opinie i prognozy przedstawione w niniejszym opracowaniu są jedynie wyrazem opinii autorów w dniu publikacji.